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測試系統的開關構造(06-100)

—— 測試系統的開關構造
作者:時間:2008-04-10來源:電子產品世界收藏

  往往用少量的儀器測量大量信號。這種設計方法制約成本,而且限制測試吞吐量。相反,如果系統具有測試的所有信號和足夠的儀器,雖然能較快地提高吞吐量,但通常是成本高而不合算。

本文引用地址:http://www.mzugvc.icu/article/81442.htm

  低成本的傳統辦法是在幾個信號間開關轉換一個數字電壓表(DVM)。若只包含兩個信號,則連接DVM用一個單刀雙擲開關(SPDT),單刀連接其兩個信號之一。若必須開關轉換信號的高和低端,則雙刀雙擲(DPDT)配置是適合的。對于4個信號,可用雙刀4擲(DP4T)開關。

  應用也存在超過2刀以上的情況。例如,4PDT(4刀雙擲)開關可支持對兩個元件的4線或kelvin連接歐姆測量。一個6PDT開關可提供驅動保護和4線歐姆測量。當然,這類開關術語可以無限地擴展。

  從類似的刀和擲概念描述多路復用器,表示為n×m,其中n為刀數、m為擲數。某些供應商把單刀8路多路復用器表示為1×8,而另一些供應商稱之為8×1。 多路復用器中,所有刀通常都接通在一起。例如,一個2×8多路復用器可用來接通8個差分信號中的一個到一個差分電壓表。

  同樣的n×m表示用來描述開關矩陣,但在實際的矩陣中,n行中的任一行可以連接到m列中的任一列。例如,一個2×8矩陣可以同時連接到的任一行或兩行到列的任一列。若希望此矩陣可做為差分多路復用器,因包含大量的開關使其性能變壞、成本較高。

  通常開關矩陣用于接通多輸入通道中的多個儀器。圖1示出列基矩陣開關儀器、源和DUT(通道1),DMM測量電壓。同時,不用的輸入都接地。在這種配置中,矩陣行的作用如同總線連接在一起的列組。

  在行基的配置中,測試儀器和源是配置在不同的行中,列專門配置DUT??梢赃x擇任何的行和列組合。重要的是正確地編程開關以防短路。
有些情況用閉鎖矩陣可以避免矩陣增加成本。這些矩陣只允許一行連接到一個特定的列。根據所需的開關靈活性,可以組合少數多路復用器構成稀疏矩陣,它只支持所有可能行一列組合的一個子集。


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